シリコン・テスト・テクノロジーズ株式会社

DFT(Design For Testability)セミナ

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弊社セミナへのお問合せはコチラまで 設計（DFT),プリシリコン,1stシリコン（デバッグ）,ポストシリコン,量産,ロジックメモリアナログロジックメモリアナログ,設計ツール解析装置ATE,インタフェース,RF,スキャン,機能テスト適応テスト,1章テストコスト,2章欠陥・SDD,3章DBT,4章遅延,5章IF,6章LBIST,7章MBIST,序論1,序論2,ATPG,縮退,ブリッジ,ディレイ,コンタクト／ビア不良,NBTI,リーク,変動オープン,ショート,IDDQ

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